This paper presented and discussed a method and its principles to characterize the modulation structure of nano- multilayers with energy dispersive X- ray( EDX) techniques.
提出并讨论了采用 X射线色散谱 ( EDX)技术表征纳米多层膜调制结构的原理和方法 ,对Ti N/ Nb N纳米多层膜的调制结构特征进行了表征 ,并与横截面透射电子显微镜 ( TEM)表征方法进行比较 。
A sufficient and necessary condition is obtained for those matrices whose spectral diagrams are invariant under some rotations.
通过矩阵旋转变换和平移变换,讨论了复矩阵的特征值均匀地分布在复平面的圆周上的问题,给出了矩阵旋转变换下谱象保持不变的复矩阵的充分必要条件,同时指出了这类矩阵与循环矩阵、循环置换矩阵之间的关系。
